晶粒度表示晶粒大小的尺度。金屬的晶粒大小對(duì)金屬的許多性能有很大影響。晶粒度的影響，實(shí)質(zhì)是晶界面積大小的影響。晶粒越細(xì)小則晶界面積越大，對(duì)性能的影響也越大。對(duì)于金屬的常溫力學(xué)性能來說，一般是晶粒越細(xì)小，則強(qiáng)度和硬度越高，同時(shí)塑性和韌性也越好。

一般情況下平均晶粒度檢測(cè)有三種基本方法：比較法、面積法、截點(diǎn)法。具體如下：

1、比較法

比較法不需計(jì)算晶粒、截矩。與標(biāo)準(zhǔn)系列評(píng)級(jí)圖進(jìn)行比較，用比較法評(píng)估晶粒度時(shí)一般存在一定的偏差(±0.5級(jí))。評(píng)估值的重現(xiàn)性與再現(xiàn)性通常為±1級(jí)。

2、面積法

面積法是計(jì)算已知面積內(nèi)晶粒個(gè)數(shù)，利用單位面積晶粒數(shù)來確定晶粒度級(jí)別數(shù)。該方法的精確度中所計(jì)算晶粒度的函數(shù)，通過合理計(jì)數(shù)可實(shí)現(xiàn)±0.25級(jí)的精確度。面積法的測(cè)定結(jié)果是無偏差的，重現(xiàn)性小于±0. 5級(jí)。面積法的晶粒度關(guān)鍵在于晶粒界面明顯劃分晶粒的計(jì)數(shù)。

3、截點(diǎn)法

截點(diǎn)數(shù)是計(jì)算已知長度的試驗(yàn)線段(或網(wǎng)格)與晶粒界面相交截部分的截點(diǎn)數(shù)，利用單位長度截點(diǎn)數(shù) 來確定晶粒度級(jí)別數(shù)。截點(diǎn)法的精確度是計(jì)算的截點(diǎn)數(shù)或截距的函數(shù)，通過有效的統(tǒng)計(jì)結(jié)果可達(dá)到 ±0.25級(jí)的精確度。