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1、范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低碳鋼冷軋薄板的鐵素體晶粒度的術(shù)語(yǔ)和定義、試樣及制備、測(cè)定方法、試驗(yàn)報(bào)告等。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)定含碳量小于0.2%的低碳鋼冷軋薄板的鐵素體晶粒度，晶粒形狀與本標(biāo)準(zhǔn)系列評(píng)級(jí)圖相似的其他金屬材料的晶粒度測(cè)定也可參照本標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。

2、試樣及制備

2.1 取樣部位

試樣應(yīng)在交貨狀態(tài)材料上切取，在鋼板寬度的1/2處取樣，也可在距側(cè)邊約50 mm處或按相關(guān)技術(shù)條件規(guī)定取樣。

2.2 取樣方法

試樣用冷加工如沖、切、剪、鋸等的方法切取，檢驗(yàn)時(shí)，必須通過(guò)粗磨將冷加工變形層去除。

2.3 取樣方向

無(wú)特殊規(guī)定時(shí)，縱向(即平行于鋼板的軋制方向)取樣，試樣的磨面為與鋼板的軋制方向平行的厚度截面。

2.4 試樣尺寸

推薦試樣尺寸為：長(zhǎng)度約10mm,寬度為鋼板的厚度。

2.5 試樣制備

按GB/T 13298制備并浸蝕試樣。

3、測(cè)定方法

晶粒度的測(cè)定方法有比較法和截點(diǎn)法兩種。一般采用比較法，仲裁時(shí)采用截點(diǎn)法。

3.1 比較法

3.1.1 試樣制好后，在100倍的顯微鏡下觀察。測(cè)定時(shí)，在顯微鏡下將試樣作全面觀察，選取代表性視場(chǎng)并將該視場(chǎng)的晶粒組織圖像與附錄A中的標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖進(jìn)行比較，選取與檢測(cè)圖像最接近的標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖級(jí)別，記錄評(píng)定結(jié)果。

3.1.2 標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖中的第一標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖是晶粒延伸度約等于1的圖譜；第二標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖是晶粒延伸度約等于2的圖譜；第三標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖是晶粒延伸度約等于3的圖譜，分別用I II1I表示。評(píng)定時(shí)，應(yīng)記下圖譜的系列號(hào)和晶粒度級(jí)別。例如,當(dāng)所觀察試樣的晶粒與第三標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖中的6級(jí)相當(dāng)時(shí)，記I6級(jí)，表示延伸度約等于3，晶粒度為6級(jí)。如果晶粒延伸度介于兩個(gè)系列標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖之間，可表示為I~或I~l。

3.1.3 如所觀察到的晶粒度在相鄰兩個(gè)晶粒度級(jí)別之間可用半級(jí)表示。

3.1.4 當(dāng)基準(zhǔn)放大倍數(shù)(100倍)不能滿足需要時(shí)，可用其他放大倍數(shù)進(jìn)行評(píng)定。若采用放大倍數(shù)M進(jìn)行評(píng)定，將放大倍數(shù)M的待測(cè)晶粒圖像與基準(zhǔn)放大倍數(shù)100倍的評(píng)級(jí)圖片比較,評(píng)出的晶粒度級(jí)別為G' ,其晶粒度級(jí)別G按式(3)計(jì)算：

3.1.5 若試樣中存在晶粒不均勻現(xiàn)象,經(jīng)全面觀察后.如屬個(gè)別現(xiàn)象,并且占優(yōu)勢(shì)的晶粒所占視場(chǎng)面積不少于90%，則可記下占優(yōu)勢(shì)的晶粒的晶粒度級(jí)別作為評(píng)定結(jié)果；若試樣中出現(xiàn)雙重晶粒度,則按GB/T 24177- 2009 中7.4的方法表示。

3.2 三圓截點(diǎn)法

3.2.1 對(duì)于晶粒延伸度e≤3的晶粒度的測(cè)量,可以使用圓測(cè)量網(wǎng)格在縱向面上進(jìn)行測(cè)量。具體測(cè)量方法應(yīng)符合GB/T 6394- -2002中5.3.5的規(guī)定。

3.2. 2 計(jì)算截點(diǎn)時(shí)，測(cè)量網(wǎng)格與晶界相交和相切時(shí)，均計(jì)為1個(gè)截點(diǎn)。測(cè)量網(wǎng)格通過(guò)三個(gè)晶粒匯合點(diǎn)時(shí)截點(diǎn)計(jì)數(shù)為2個(gè)。

以上就是“ GB/T 4335- 2013 低碳鋼冷軋薄板鐵素體晶粒度測(cè)定法”的相關(guān)解答，無(wú)錫力博實(shí)驗(yàn)室是一家專注于可靠性試驗(yàn)與項(xiàng)目研發(fā)的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，公司擁有大型實(shí)驗(yàn)室，可以承接晶粒度檢測(cè)、及CNAS/CMA報(bào)告試驗(yàn)，如果您有產(chǎn)品需要做相關(guān)測(cè)試的，歡迎電話咨詢!